Eugene Grosbein написал(а) к Michael Dukelsky в Mar 18 16:08:46 по местному времени:

24 марта 2018, суббота, в 11:08 NOVT, Michael Dukelsky написал(а):

EG>> According to the Intel Solid-State Drive DC S3500 Series
EG>> Specifications, in page 22, the SMART counter 175 (Нexadecimal AF)
EG>> presents the test results for Power-Loss Protection Failure. It has a
EG>> high number due to the nature of the test and the information
EG>> contained in the RAW value:
EG>> Bytes 0-1: Last test result as microseconds to discharge cap.
EG>> Bytes 2-3: Minutes since last test.
EG>> Bytes 4-5: Lifetime number of tests.
EG>> Normalized value: set to 1 on test failure or 11 if the capacitor
EG>> has been tested in an excessive temperature condition, otherwise 100.
EG>> In the output you provided, it seems that the Normalized Value is
EG>> "100", which indicates that the drive is "OK".
EG>> Последнее предложение тебя тоже касается: в столбце VALUE у тебя тоже
EG>> 100, то есть норма.
MD> Спасибо, я понял, что на интерпретацию smartctl смотреть не нужно, потому что
MD> "pre-fail" - это "ОК"

вовсе нет

MD> а "old_age" это на самом деле "brand new".

нет

MD> Буду искать документацию по конкретному накопителю.

Зачем? Тебе не достаточно того, что в квоте, или ты её даже не читал?
Как, собственно, и man по smartctl, где подробно описано,
что значит pre-fail и прочий вывод smartctl.

Eugene
--
Кара за одно съеденное яблоко, все-таки, была несоизмеримо велика,
приступ диареи послужил бы достаточным уроком.
--- slrn/1.0.2 (FreeBSD)